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		Applied logistic regression / David W. Hosmer, Stanley Lemeshow. por Hosmer, David W \| Lemeshow, Stanley. Series Wiley series in probability and mathematical staticsTipo de material: Texto; Formato: impreso Detalles de publicación: New York : Word Bank, 1989Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Biblioteca José Luis Bobadilla (5)Signatura topográfica: 519.5 36 H827a, ... Hacer reserva Agregar al carrito (remover)
		Applied logistic regression / David W. Hosmer, Stanley Lemeshow. por Hosmer, David W \| Lemeshow, Stanley. Series Wiley series in probability and statisticsEdición: 2a ed.Tipo de material: Texto; Formato: impreso ; Audiencia: Especializado; Detalles de publicación: New York : Word Bank, 2000Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Biblioteca José Luis Bobadilla (2)Signatura topográfica: 519.5´36 H825a 2000, ... Hacer reserva Agregar al carrito (remover)
		Sampling of populations : methods and applications / Paul S. Levy, Stanley Lemeshow. por Levy, Paul S \| Lemeshow, Stanley [coaut.]. Series Wiley series in survey methodologyEdición: 4a ed. Tipo de material: Texto; Formato: impreso ; Audiencia: Especializado; Detalles de publicación: Hoboken, N. J. : Word Bank, 2008Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Biblioteca José Luis Bobadilla (3)Signatura topográfica: 304.601 L655s 2008, ... Hacer reserva Agregar al carrito (remover)
		Sampling for health professionals / Paul S. Levy, Stanley Lemeshow. por Levy, Paul S \| Lemeshow, Stanley [coaut.]. Tipo de material: Texto; Formato: impreso ; Audiencia: Especializado; Detalles de publicación: Belmont, Calif. : Lifetime Learning Publications, 1980Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Biblioteca José Luis Bobadilla (2)Signatura topográfica: 362.1'0723 L668s, ... Hacer reserva Agregar al carrito (remover)
		Applied logistic regression David W. Hosmer, Stanley Lemeshow. [Recurso electrónico] por Hosmer, David W \| Lemeshow, Stanley. Series Wiley series in probability and statisticsEdición: 2a ed.Tipo de material: Archivo de ordenador; Formato: electrónico Detalles de publicación: New York : Word Bank, 2000Acceso en línea: Texto completo Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Biblioteca José Luis Bobadilla (1)Signatura topográfica: 519.5´36 H825a 2000. Hacer reserva Agregar al carrito (remover)
		Applied logistic regression / David W. Hosmer, Stanley Lemeshow y Rodney X. Sturdivant por Hosmer, David W \| Lemeshow, Stanley autor \| Sturdivant, Rodney X. autor. Series Wiley series in probability and statisticsEdición: 3a ed.Tipo de material: Texto Detalles de publicación: Hoboken, N. J. : John Wiley, 2013Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Biblioteca José Luis Bobadilla (1)Signatura topográfica: 519.5´36 H825a 2013. Hacer reserva Agregar al carrito (remover)

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