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Applied logistic regression David W. Hosmer, Stanley Lemeshow. [Recurso electrónico]

por Hosmer, David W | Lemeshow, Stanley.

Series Wiley series in probability and statisticsEdición: 2a ed.Tipo de material: Archivo de ordenador Archivo de ordenador; Formato: electrónico Detalles de publicación: New York : Word Bank, 2000Acceso en línea: Texto completo Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Biblioteca José Luis Bobadilla (1)Signatura topográfica: 519.5´36 H825a 2000.

Applied logistic regression / David W. Hosmer, Stanley Lemeshow y Rodney X. Sturdivant

por Hosmer, David W | Lemeshow, Stanley autor | Sturdivant, Rodney X. autor.

Series Wiley series in probability and statisticsEdición: 3a ed.Tipo de material: Texto Texto Detalles de publicación: Hoboken, N. J. : John Wiley, 2013Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Biblioteca José Luis Bobadilla (1)Signatura topográfica: 519.5´36 H825a 2013.

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